薄膜测厚仪薄膜厚测量仪

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薄膜测厚仪|薄膜厚测量仪|ASTMF2251

薄膜测厚仪薄膜厚测量仪

PARAM博每C640测厚仪

C640测厚仪是一款高精、高重复性的机械接触式精密测厚仪，适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。

设备技术特征：

1、zhuan业Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精的位移传感器、科学的结构布局及zhuan业的控制技术，实现世界先进的测试稳定性、重复性及精。

2、高效采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。

3、智能搭载Labthink新一代版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。

C640测厚仪测试原理：

将预先处理好的薄试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄试样的厚。

执行标准：ISO4593、ISO534、ASTMD6988、ASTMF2251、GB/T6672、GB/T451.3、TAPPIT411、BS2782-6、DIN53370、ISO3034、ISO9073-2、ISO12625-3、ISO5084、ASTMD374、ASTMD1777、ASTMD3652、GB/T6547、GB/T24218.2、FEFCONo3、EN1942、JISK6250、JISK6783、JISZ1702

《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）

C640测厚仪应用材料：

基础应用：

薄膜、薄片各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚测定

纸各种纸张、纸板、复合纸板等的厚测定

扩展应用：

金属片、硅片硅片、箔片、各种金属片等的厚测定

瓦楞纸板瓦楞纸板的厚测定

纺织材料各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚测定

非织造布各类非织造布如尿不湿、卫生巾、yi用口罩等的厚测定

其它材料固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚测定

C640测厚仪技术指标：

①C640M号参数：

测试范围（标配）：0～2mm

分辨率：0.1m

重复性：0.8m

测量范围（选配）：0～6、0～12mm

测量间距：0～1000mm（可设定）

进样速：1.5～80mm/s（可设定）

附加功能：

自动进样机：可选配置

DataShieldTM数据盾：可选配置

GMP计算机系统要求：可选配置

测量方式：机械接触式

测量压力及接触面积：

薄膜：17.51kPa、50mm2

纸张：1001kPa(标准配置)/501kPa（可选配置）、200mm2

电源：220-240VAC50Hz/120VAC60Hz

外形尺寸：370mm（L）350mm（W）410mm（H）

净重：26kg

②C640H号参数：

测试范围（标配）：0～2mm

分辨率：0.1m

重复性：0.4m

测量范围（选配）：0～6、0～12mm

测量间距：0～1000mm（可设定）

进样速：1.5～80mm/s（可设定）

附加功能：

自动进样机：可选配置

DataShieldTM数据盾：可选配置

GMP计算机系统要求：可选配置

测量方式：机械接触式

测量压力及接触面积：

薄膜：17.51kPa、50mm2

纸张：1001kPa(标准配置)/501kPa（可选配置）、200mm2

电源：220-240VAC50Hz/120VAC60Hz

外形尺寸：370mm（L）350mm（W）410mm（H）

净重：26kg