四探针法测电阻率（四探针电阻测试仪）

本篇文章给大家谈谈四探针法测电阻率，以及四探针电阻测试仪对应的知识点，文章可能有点长，但是希望大家可以阅读完，增长自己的知识，最重要的是希望对各位有所帮助，可以解决了您的问题，不要忘了收藏本站喔。

本文主要内容一览

• 1、四探针电阻率测试仪跟粉末电阻率测试仪是一样的吗
• 2、iv探针排红线是电压还是电流
• 3、m3手持式四探针工作原理
• 4、四探针可以测粉末吗小木虫
• 5、四探针可以外接用于两点法测电导率吗
• 6、硅片表面稳定对四探针有影响吗

四探针法测电阻率（四探针电阻测试仪）

1四探针电阻率测试仪跟粉末电阻率测试仪是一样的吗

四探针电阻率测试仪跟粉末电阻率测试仪不是一样的。1、四探针电阻测试仪：用于测量物质的电阻主机采用世界领先的先进电路设计，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。2、粉末电阻率测试仪：采用PC软件系统作为分析电阻率的变化趋势来做分析的，粉体会随着时间和压力的增加，电阻率值会慢慢减少，后趋于平稳，平稳的过程一般表示粉体的可压缩性很小，空隙率非常小，分子结构精密结合在一起，或分子结构被破坏而屈服于固结成型，粉体分析过程，是采用自动化程度高的仪器。

四探针法测电阻率（四探针电阻测试仪）

2iv探针排红线是电压还是电流

电流。

一种iv测试探针排测试检测系统

技术领域

1.本实用新型涉及光伏电池片制造领域，特别涉及一种iv测试探针排测试检测系统。

背景技术：

2.光伏电池片制造业测试分选是其中一道工序，测试分选关系到产品档位和质量的好和差，所以对检测设备的检测标准和要求很高。测试分选必须用到iv检测仪，如图1所示，iv测试仪测量太阳能电池的iv特性，可以测量硅太阳能电池，系统会自动计算关键参数，如开路电压、短路电流、ff(填充因子)、jsc(短路电流密度)、voc(开路电压)、最大功率、效率等等。进行这些参数测试，必须用到探针排和太阳能电池的主栅接触，探针排的接触情况，构造排布直接关系到所有数据的准确性。通常的探针排设计，电流和电压针间隔排布在一条探针排上，所有电流、电压针分别串联起来再汇集到数字源表进行四线法iv扫描，也就是在光照条件下在电流接口端进行动态负载扫描，同时记录电流、电压值。由于电流针和电压针不在主栅上的同一个位置，所以读取的电压值并非引出电流处的电压。这样至少会带来两方面的影响：(1)读取的电压值比电流针处的电压高，ff和效率都偏高，偏高的程度和电压针和相邻两个电流针之间的距离，以及太阳电池主栅的线电阻大小有关，距离越大，主栅线电阻越大，偏离的程度也就越大；(2)由于所有电压针都短接再汇集到数字源表，当太阳电池不同位置的电压值不一样时，会引起电压针间的电流流动使得整个平面的电压趋于一致，这样对于均匀性较差的太阳电池，尤其是182,210这些大尺寸电池，不均匀性带来的波动也影响ff和效率，均匀性越差，波动也越大。

3.综上两点，以往使用的iv测试设备，检测误判率较高，通常会把好的电池片分选到差的电池片档位，也会把差的电池片分选到好的电池片档位，或者会把不同电压的电池片放在一起，这些检测设备的误判给公司造成巨大的经济损失。

4.参照现有公开号为cn205397505u的中国专利，其公开了光伏电池片背面检测系统，有一个真空吸附板(1)、三条吸附段传送皮带(2)、一个检测前段皮带(3)、一个检测后段皮带(4)和一个气缸；真空吸附板(1)与抽气泵用气管相连而具有真空吸附功能，三条吸附段传送皮带(2)紧贴真空吸附板(1)下方运转，电池片(6)由检测前段皮带(3)传送至装料工位(11) 后被气缸顶起，真空吸附板(1)将电池片(6)吸到吸附段传送皮带(2)上；吸附段传送皮带(2)将电池片(6)运转到检测工位(12)，检测后吸附段传送皮带(2)将电池片(6)运转到卸料工位(13)。

5.上述的这种光伏电池片背面检测系统可以简化了检测和传送装置，使得机器长度大大缩短，降低了机器成本。但是上述的这种光伏电池片背面检测系统依旧存在着一些缺点，如：以往使用的iv测试设备检测误判率极高，通常会把好的电池片分选到差的电池片档位，也会把差的电池片分选到好的电池片档位，或者会把不同电压的电池片放在一起，这些检测设备的误判给公司造成巨大的经济损失。

3m3手持式四探针工作原理

34是侦探针，工作原理是他的旋转里面有一个齿轮卡住一个圆圈，所以它只能卡住一个圆球，它这个弹球才可以进行，他用这个探针才可以达到一定的测试高度，所以他手持式的试探针工作原理一般都是齿轮式工作原理。

4四探针可以测粉末吗小木虫

可以。四探针法粉末电阻率测试仪，可以用于对涂层，薄膜，等半导体材料方阻的测量，广泛用于锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料电阻率的测量、需要采用四探针法测量的导体或半导体粉末材料的分析与检测、石墨类粉状材料电阻率的测量，所以是可以探测粉末的，非常好用。

电导率吗">5四探针可以外接用于两点法测电导率吗

四探针可以外接用于两点法测电导率。四探针法通常用来测量半导体的电阻率。四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要校准。有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准。

6硅片表面稳定对四探针有影响吗

有影响。根据查询用四探针法测试硅片微区薄层电阻的稳定性研究显示，硅片表面稳定对四探针有影响。四探针测试技术，简称为四探针法，是测量半导体电阻率最常用的一种方法。