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IC半导体X-RAY检测解决方案(ic半导体测试基础)

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更新时间:2025-11-09

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内容摘要:IC半导体X-RAY检测解决方案(ic半导体测试基础)|应用价值日联科技AX7900Si属于X射线检测设备,是自动化x射线检测、点料、上料和下料从而提高生产效率的全自动半导体元器件x射线检测设备。该设备已获得国家生态环境部关于X射线装置的豁免管理,该X射线检测系统的辐射量在符合国家安全标准,辐射量低于1uSv/h,能够保障X射线装置

|应用价值

日联科技AX7900Si属于X射线检测设备,是自动化x射线检测、点料、上料和下料从而提高生产效率的全自动半导体元器件x射线检测设备。该设备已获得国家生态环境部关于X射线装置的豁免管理,该X射线检测系统的辐射量在符合国家安全标准,辐射量低于1uSv/h,能够保障X射线装置操作人员的人身健康安全。

IC半导体X-RAY检测解决方案(ic半导体测试基础)

IC半导体X-RAY检测解决方案(ic半导体测试基础)

|应用优势

我们的设备采用全新结构,突破以往传动方式,射线源设计有水平及角度精密微调机构,确保射线源与产品垂直。配备了先进的检测技术。如果您的应用需求超越了常规使用设备的能力,我们的团队会为您量身定制一套系统以满足您的检测需求。不论您身处哪个行业领域或有怎样的检测需求,日联科技都会是你身边合作伙伴。

|应用范围

我们的IC半导体X射线实时成像检测系统能更快更高效地检测出桥接、空洞、开路、多锡少锡、断线、通孔对齐度等品质缺陷。

标签:半导体,方案,检测,测试,基础
本文网址:https://m.huanbaojx.cn/gfcl/12713.html

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